电子显微分析实用方法

《电子显微分析实用方法》立足于实验教学和技术培训，着重电子显微技术在分析材料中的应用。主要内容包括透射电镜与扫描电镜的图像衬度原理与观察，选区电子衍射、会聚束衍射和背散射衍射技术及应用，×射线能谱分析原理与实验方法以及试样制备技术。
　　为顺应我国的标准化潮流，《电子显微分析实用方法》将多项国际标准和国家标准与相关分析方法相结合，力图把标准化意识贯彻到教学中。
　　《电子显微分析实用方法》是实验实践类教材，适用于材料类专业本科生和研究生的实验性教学，也可供教师与技术人员参考，还可作为微束分析领域国家标准宣贯的参考资料。

章 透射电子显微镜的基本结构和操作
1．1 电磁透镜的基本原理
1．2 透镜的像差
1．2．1 球差
1．2．2 色差
1．2．3 像散
1．2．4 衍射差
1．3 显微镜的分辨率
1．3．1 显微镜的极限分辨率
1．3．2 实际分辨率
1．4 透射电镜的基本结构
1．4．1 照明系统
1．4．2 成像系统
1．4．3 试样台
1．4．4 照相记录系统
1．5 透射电镜的主要工作模式
1．5．1 放大成像模式
1．5．2 电子衍射模式
1．5．3 明场像和暗场像
1．5．4 点阵像（晶格像）
1．6 实验内容
1．7 透射电镜的各功能键以及合轴调整技巧
1．7．1 JEOLJEM-2010透射电镜主要功能钮简介
1．7．2 JEOLJEM-2010透射电镜的合轴调整
1．7．3 TeaiG2F-20或F-30透射电镜主要功能钮简介
1．7．4 TeaiG2F-20或F-30透射电镜的合轴调整
练习题
参考文献

第2章 透射电镜放大像的观察与记录
2．1 透射电子显微像的衬度
2．1．1 衬度的概念
2．1．2 复型试样和非晶试样的放大像观察与记录
2．1．3 晶体试样衍衬像的观察与记录
2．1．4 晶体缺陷衍衬像简介
2．2 TEM的高分辨像观察与记录
2．2．1 晶格像的原理
2．2．2 晶格像的观察
2．3 TEM高分辨像的傅里叶变换
2．3．1 傅里叶变换简介
2．3．2 TEM高分辨像的傅里叶变换
2．3．3 环形滤波工具在傅里叶变换中的应用
2．3．4 孪生滤波在傅里叶变换中的作用
2．4 薄膜试样厚度的测定
2．4．1 消光轮廓法
2．4．2 迹线法
2．4．3 污染斑点法
练习题
参考文献
……
第3章 扫描电镜的基本原理与实验方法
第4章 扫描透射电镜的原理及应用
第5章 TEM的选区电子衍射法
第6章 多晶试样衍射花样的分析和相机常数测定
第7章 单晶斑点衍射花样及其分析
第8章 菊池花样的分析与应用
第9章 晶体学分析
0章 会聚束电子衍射
1章 晶体点群的会聚束衍射测定
2章 电子背散射衍射分析与取向成像方法
3章 X射线能谱微区化学分析的基本原理及定性分析
4章 块状试样的X射线能谱定量分析
5章 薄试样的X射线能谱分析
6章 电镜试样的制备

附录1 电子的波长表
附录2 几种电子枪的参数
附录3 原子对电子的散射因子
附录4 立方晶系的指数平方根比
附录5 晶体的晶面间距公式
附录6 BCC、FCC和HCP结构的单晶体斑点衍射花样
附录7 晶体的晶面夹角及晶向夹角公式
附录8 BCC、FCC和HCP单晶体的菊池图
A．8．1 FCC晶体的菊池图
A．8．2 BCC晶体的菊池图
A．8．3 HCP晶体的菊池图
附录9 标准极图
附录10 晶体的指数变换公式
附录11 元素的特征X射线能量及吸收边能量表

索引