描述
开 本: 16开纸 张: 胶版纸包 装: 平装-胶订是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787111619802
编辑推荐
随着智能制造在我国的推进，检测技术的数字化在逐步普及。《数字射线检测技术》是我国射线检测老专家郑世才先生和青年专家王晓勇先生共同编写完成的培训教材，本书的前两版获得了业内好评，被很多培训机构选用。如今《数字射线检测技术》第3版上市了，经过本次修订，在内容上契合了新技术的发展，构成了一个基本完整的数字射线检测技术的知识系统，形成了比较清晰的Ⅱ级与Ⅲ级人员要求的区分界定。精心设计了十个实验，使学员在学习理论的同时学会实际检验操作。每章有复习题，可帮助学员巩固所学知识，掌握重点内容，顺利通过考试。
内容简介
《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。经过本次修订，本书在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
目 录
前言
第1章概述
1.1数字射线检测技术的发展概况
1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别
1.3数字射线检测技术基本理论
1.4等价性问题
1.5数字射线检测技术标准
复习题
第2章辐射探测器与其他器件
2.1辐射探测器概述
2.1.1辐射探测器的类型（*）
*2.1.2辐射探测器的一般特性
2.1.3辐射探测器系统
2.2辐射探测器系统的基本性能
2.3分立辐射探测器（DDA）
2.3.1非晶硅辐射探测器（*）
2.3.2非晶硒辐射探测器
2.3.3CCD或CMOS辐射探测器
2.3.4分立辐射探测器的性能（*）
2.4成像板系统（IP板系统）
2.4.1IP板（*）
*2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系统的基本性能（*）
*2.5图像增强器系统
*2.5.1图像增强器的基本结构
*2.5.2图像增强器系统的探测过程
*2.5.3图像增强器系统的主要性能
2.6A/D转换器
2.7射线检测的像质计与线对卡
2.7.1像质计概述
2.7.2常规像质计
2.7.3双丝型像质计（*）
*2.74线对卡
复习题
第3章数字射线检测基本理论
3.1数字图像概念
3.1.1数字图像的基本概念
3.1.2数字图像的空间频率
**3.1.3灰度
*3.1.4数字图像文件格式
3.2图像数字化基本理论
3.2.1图像数字化过程
3.2.2采样定理（*）
*3.2.3量化位数
3.3数字射线检测图像质量
3.3.1检测图像对比度
3.3.2检测图像空间分辨力（*）
3.3.3检测图像信噪比（*）
3.4检测图像与细节识别和分辨
3.4.1检测图像与细节识别的关系（*）
3.4.2检测图像与细节分辨的关系（*）
**3.5细节可识别性理论关系式
复习题
第4章数字射线检测基本技术
4.1概述
4.2探测器系统选择
4.2.1探测器系统概述
4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择
4.2.3规格化信噪比选择
4.3数字射线检测透照技术
4.3.1透照技术控制概述
4.3.2最佳放大倍数（*）
4.3.3源到工件表面的距离（*）
4.3.4曝光曲线（*）
4.4图像数字化参数控制
4.5检测图像显示与缺陷评定技术
4.5.1图像显示与观察条件（*）
4.5.2图像观察识别技术
4.5.3缺陷识别与质量级别评定
4.5.4尺寸测量（*）
**4.5.5厚度测定
4.6数字射线检测图像质量控制
4.6.1检测图像质量参数控制
4.6.2图像质量的补偿规则（*）
*4.7数字射线检测技术级别近似设计
*4.7.1技术级别设计概述
*4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计
*4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计
*4.7.4例题
4.8数字射线检测技术稳定性控制
4.8.1检测工艺文件（检测程序文件）
4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制
4.8.3检测工艺卡编制
复习题
第5章工业常用数字射线检测系统
5.1概述
5.2DR系统
5.2.1DR系统组成
5.2.2DR系统技术控制（*）
5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（*）
5.2.4DR系统应用特点
5.3CR系统
5.3.1CR系统检测基本过程
5.3.2CR系统技术控制
5.3.3CR系统应用
*5.4图像增强器数字射线检测系统
**5.5微焦点数字射线检测系统
**5.6底片图像数字化扫描技术
**5.6.1扫描仪概述
**5.6.2扫描仪的基本性能指标
**5.6.3扫描技术
**5.6.4扫描仪选用
复习题
第6章等价性问题
6.1等价性问题概述
6.2等价技术级别评定
6.2.1等价技术级别评定概述
*6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析
*6.2.3等价技术级别评定过程
*6.2.4等价技术级别评定例题
**6.3等价性问题的理论处理方法
复习题
第7章实验
实验1DDA基本空间分辨力测定
实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定
实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响
实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响
实验5曝光量对检测图像质量的影响
实验6最佳放大倍数试验
实验7曝光曲线制作
实验8图像软件使用
实验9DDA数字射线检测系统使用
实验10CR数字射线检测系统使用
附录
附录A辐射探测器的基础性知识
附录B采样定理说明
附录C数字图像增强处理技术简介
附录D动态数字射线检测技术
附录E射线检测技术系统的调制传递函数
附录F复习参考题答案
参考文献
第1章概述
1.1数字射线检测技术的发展概况
1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别
1.3数字射线检测技术基本理论
1.4等价性问题
1.5数字射线检测技术标准
复习题
第2章辐射探测器与其他器件
2.1辐射探测器概述
2.1.1辐射探测器的类型（*）
*2.1.2辐射探测器的一般特性
2.1.3辐射探测器系统
2.2辐射探测器系统的基本性能
2.3分立辐射探测器（DDA）
2.3.1非晶硅辐射探测器（*）
2.3.2非晶硒辐射探测器
2.3.3CCD或CMOS辐射探测器
2.3.4分立辐射探测器的性能（*）
2.4成像板系统（IP板系统）
2.4.1IP板（*）
*2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系统的基本性能（*）
*2.5图像增强器系统
*2.5.1图像增强器的基本结构
*2.5.2图像增强器系统的探测过程
*2.5.3图像增强器系统的主要性能
2.6A/D转换器
2.7射线检测的像质计与线对卡
2.7.1像质计概述
2.7.2常规像质计
2.7.3双丝型像质计（*）
*2.74线对卡
复习题
第3章数字射线检测基本理论
3.1数字图像概念
3.1.1数字图像的基本概念
3.1.2数字图像的空间频率
**3.1.3灰度
*3.1.4数字图像文件格式
3.2图像数字化基本理论
3.2.1图像数字化过程
3.2.2采样定理（*）
*3.2.3量化位数
3.3数字射线检测图像质量
3.3.1检测图像对比度
3.3.2检测图像空间分辨力（*）
3.3.3检测图像信噪比（*）
3.4检测图像与细节识别和分辨
3.4.1检测图像与细节识别的关系（*）
3.4.2检测图像与细节分辨的关系（*）
**3.5细节可识别性理论关系式
复习题
第4章数字射线检测基本技术
4.1概述
4.2探测器系统选择
4.2.1探测器系统概述
4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择
4.2.3规格化信噪比选择
4.3数字射线检测透照技术
4.3.1透照技术控制概述
4.3.2最佳放大倍数（*）
4.3.3源到工件表面的距离（*）
4.3.4曝光曲线（*）
4.4图像数字化参数控制
4.5检测图像显示与缺陷评定技术
4.5.1图像显示与观察条件（*）
4.5.2图像观察识别技术
4.5.3缺陷识别与质量级别评定
4.5.4尺寸测量（*）
**4.5.5厚度测定
4.6数字射线检测图像质量控制
4.6.1检测图像质量参数控制
4.6.2图像质量的补偿规则（*）
*4.7数字射线检测技术级别近似设计
*4.7.1技术级别设计概述
*4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计
*4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计
*4.7.4例题
4.8数字射线检测技术稳定性控制
4.8.1检测工艺文件（检测程序文件）
4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制
4.8.3检测工艺卡编制
复习题
第5章工业常用数字射线检测系统
5.1概述
5.2DR系统
5.2.1DR系统组成
5.2.2DR系统技术控制（*）
5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（*）
5.2.4DR系统应用特点
5.3CR系统
5.3.1CR系统检测基本过程
5.3.2CR系统技术控制
5.3.3CR系统应用
*5.4图像增强器数字射线检测系统
**5.5微焦点数字射线检测系统
**5.6底片图像数字化扫描技术
**5.6.1扫描仪概述
**5.6.2扫描仪的基本性能指标
**5.6.3扫描技术
**5.6.4扫描仪选用
复习题
第6章等价性问题
6.1等价性问题概述
6.2等价技术级别评定
6.2.1等价技术级别评定概述
*6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析
*6.2.3等价技术级别评定过程
*6.2.4等价技术级别评定例题
**6.3等价性问题的理论处理方法
复习题
第7章实验
实验1DDA基本空间分辨力测定
实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定
实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响
实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响
实验5曝光量对检测图像质量的影响
实验6最佳放大倍数试验
实验7曝光曲线制作
实验8图像软件使用
实验9DDA数字射线检测系统使用
实验10CR数字射线检测系统使用
附录
附录A辐射探测器的基础性知识
附录B采样定理说明
附录C数字图像增强处理技术简介
附录D动态数字射线检测技术
附录E射线检测技术系统的调制传递函数
附录F复习参考题答案
参考文献
前 言
前言
本教材是为射线成像检测技术Ⅱ、Ⅲ级人员编写的关于数字射线检测技术的附加培训教材，因此关于射线成像检测技术的物理基础、射线源、工艺与缺陷等方面知识均不涉及。使用本教材的人员应是已经取得Ⅱ级或Ⅲ级射线照相检测技术资格的人员。
本教材除了未涉及简要的CT技术介绍外，可认为很好地覆盖了IAEA（国际原子能机构）制定的关于工业数字射线检测技术的RT-D培训大纲（见IAEA的2015年TCS-60文件）要求。 本教材已经被中国机械工程学会无损检测分会和航天工业作为无损检测人员技术资格培训的数字射线检测技术培训教材。
关于数字射线检测技术，本培训教材对Ⅱ级人员设定的基本要求是：按照执行的数字射线检测技术标准，正确完成一般工件的检测工作；对Ⅲ级人员设定的基本要求是：能正确处理一般工件的数字射线检测技术问题。
根据培训使用情况，这次修订对第2版进行了较多方面的修改、补充，主要包括下列六个方面：①删除了原第1章物理基础内容，重新编写为概括介绍数字射线检测技术的概述；考虑到目前制定的数字射线检测技术标准正处于不断修改、更新的状态，删除了原第7章介绍标准规定内容。②依据作者及其他科研人员的研究成果，新编写了一些重要内容，包括第34节的细节识别基本理论，第433节透照技术的源到工件表面距离处理（几乎国内外目前全部制定的标准都未做出这方面正确或全面的规定）；补充更换了许多试验图片等。③调整结构修改原编写内容，以便清楚地界定对Ⅱ级人员的要求，主要包括第2章的探测器介绍、第4章的基本技术介绍和第5章的DR系统与CR系统介绍等内容。④结合实际检测技术，将实验项目扩展为10个，新增加了曝光曲线制作、图像软件使用、DDA数字射线检测系统使用、CR数字射线检测系统使用。⑤修改了附录的内容，主要删除了原附录C ,新编写了数字图像增强处理技术简介、动态数字射线检测技术、射线检测技术系统的调制传递函数等。⑥针对Ⅱ级人员培训与考核，修改了各章后的复习题与参考答案。
修改后的培训教材由概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测技术基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录组成。可以认为，修改后的教材内容构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
由于标准在培训中作为单独科目进行，而且目前正处于标准短期更新与不断修改的过程，因此在培训时需要教师依据考核要求开展对适用的数字射线检测技术标准的相关教学。无论选择哪个标准，都希望能从技术系统构成角度深入理解标准的主要技术规定内涵，而不是简单地了解标准的技术规定条文。
本教材共编写了10个实验。实验内容对于Ⅱ级人员是需要掌握的知识或操作技能，应结合教学过程完成。其中实验1至实验6为演示性实验。即，前期采用摄像机记录实验过程，课堂上进行演示与相关说明，或对结果进行分析讨论；实验7可采用演示实验过程，提供实验数据，要求学员自己完成数据处理的方式进行；实验8至实验10为操作实习性实验，每个学员必须亲自完成（可分成小组进行）。教师可依据教学情况增加新的演示性实验或操作实习性实验。
附录供深入理解某些问题时参考。每章后面的复习题是针对Ⅱ级人员的要求编写的。
还需要说明的是，在编写本教材过程中，没有找到可供参考的同类教材。教材的系统构成和主要内容是依据作者掌握的数字射线检测技术和对数字射线检测的理解做出的设计。尽管已经经过了小范围的使用，做了修改，但是否符合要求，还需要经过实际检验。由于作者的学识、经验限制，内容中也可能存在错误，衷心期待广大读者指正。
本教材是为射线成像检测技术Ⅱ、Ⅲ级人员编写的关于数字射线检测技术的附加培训教材，因此关于射线成像检测技术的物理基础、射线源、工艺与缺陷等方面知识均不涉及。使用本教材的人员应是已经取得Ⅱ级或Ⅲ级射线照相检测技术资格的人员。
本教材除了未涉及简要的CT技术介绍外，可认为很好地覆盖了IAEA（国际原子能机构）制定的关于工业数字射线检测技术的RT-D培训大纲（见IAEA的2015年TCS-60文件）要求。 本教材已经被中国机械工程学会无损检测分会和航天工业作为无损检测人员技术资格培训的数字射线检测技术培训教材。
关于数字射线检测技术，本培训教材对Ⅱ级人员设定的基本要求是：按照执行的数字射线检测技术标准，正确完成一般工件的检测工作；对Ⅲ级人员设定的基本要求是：能正确处理一般工件的数字射线检测技术问题。
根据培训使用情况，这次修订对第2版进行了较多方面的修改、补充，主要包括下列六个方面：①删除了原第1章物理基础内容，重新编写为概括介绍数字射线检测技术的概述；考虑到目前制定的数字射线检测技术标准正处于不断修改、更新的状态，删除了原第7章介绍标准规定内容。②依据作者及其他科研人员的研究成果，新编写了一些重要内容，包括第34节的细节识别基本理论，第433节透照技术的源到工件表面距离处理（几乎国内外目前全部制定的标准都未做出这方面正确或全面的规定）；补充更换了许多试验图片等。③调整结构修改原编写内容，以便清楚地界定对Ⅱ级人员的要求，主要包括第2章的探测器介绍、第4章的基本技术介绍和第5章的DR系统与CR系统介绍等内容。④结合实际检测技术，将实验项目扩展为10个，新增加了曝光曲线制作、图像软件使用、DDA数字射线检测系统使用、CR数字射线检测系统使用。⑤修改了附录的内容，主要删除了原附录C ,新编写了数字图像增强处理技术简介、动态数字射线检测技术、射线检测技术系统的调制传递函数等。⑥针对Ⅱ级人员培训与考核，修改了各章后的复习题与参考答案。
修改后的培训教材由概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测技术基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录组成。可以认为，修改后的教材内容构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
由于标准在培训中作为单独科目进行，而且目前正处于标准短期更新与不断修改的过程，因此在培训时需要教师依据考核要求开展对适用的数字射线检测技术标准的相关教学。无论选择哪个标准，都希望能从技术系统构成角度深入理解标准的主要技术规定内涵，而不是简单地了解标准的技术规定条文。
本教材共编写了10个实验。实验内容对于Ⅱ级人员是需要掌握的知识或操作技能，应结合教学过程完成。其中实验1至实验6为演示性实验。即，前期采用摄像机记录实验过程，课堂上进行演示与相关说明，或对结果进行分析讨论；实验7可采用演示实验过程，提供实验数据，要求学员自己完成数据处理的方式进行；实验8至实验10为操作实习性实验，每个学员必须亲自完成（可分成小组进行）。教师可依据教学情况增加新的演示性实验或操作实习性实验。
附录供深入理解某些问题时参考。每章后面的复习题是针对Ⅱ级人员的要求编写的。
还需要说明的是，在编写本教材过程中，没有找到可供参考的同类教材。教材的系统构成和主要内容是依据作者掌握的数字射线检测技术和对数字射线检测的理解做出的设计。尽管已经经过了小范围的使用，做了修改，但是否符合要求，还需要经过实际检验。由于作者的学识、经验限制，内容中也可能存在错误，衷心期待广大读者指正。
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