边界扫描测试技术及应用

第1章  边界扫描测试技术概述
  1.1 技术背景及研究进展
  1.2 边界扫描测试技术原理及测试过程
    1.2.1 基本原理
    1.2.2 测试过程
  1.3 测试逻辑结构及框架
  1.4 边界扫描测试技术的运用
第2章  测试访问端口
  2.1 时钟输入(TCK)
  2.2 测试模式选择输入(TMS)
  2.3 测试数据输入(TDI)
  2.4 测试数据输出(TDO)
  2.5 测试复位输入(TRST)
第3章  TAP控制器
  3.1 TAP控制器功能概述
    3.1.1 TAP控制器的状态转换
    3.1.2 TAP控制器16个状态功能描述
  3.2 TAP控制器工作原理
    3.2.1 TAP控制器对指令寄存器的控制
    3.2.2 TAP控制器对测试数据寄存器的控制
  3.3 TAP控制器设计实现
    3.3.1 传统设计方法
    3.3.2 基于硬件描述语言的设计方法
    3.3.3 TAP控制器的初始化
第4章  指令寄存器及测试指令
  4.1 指令寄存器功能概述
  4.2 指令寄存器工作原理及设计实现
  4.3 测试指令
    4.3.1 指令的分类
    4.3.2 测试指令集
第5章  测试数据寄存器
  5.1 测试数据寄存器概述
  5.2 边界扫描寄存器
    5.2.1 边界扫描寄存器的设计与实现
    5.2.2 边界扫描寄存器单元
    5.2.3 特殊情况的优化设计
  5.3 旁路寄存器
  5.4 器件标识寄存器
    5.4.1 器件标识寄存器的原理及设计实现
    5.4.2 制造厂商标识码(ManufacturerIdentityCode)
    5.4.3 Part—number码和版本号(Version)
第6章  边界扫描互连诊断算法
  6.1 故障模型及基本概念
    6.1.1 故障模型
    6.1.2 基本概念
    6.1.3 边界扫描互连诊断算法优劣评价标准
  6.2 边界扫描互连诊断算法研究现状及存在的问题
    6.2.1 常规互连诊断算法研究现状
    6.2.2 结构互连诊断算法研究现状
    6.2.3 自适应互连诊断算法研究现状
    6.2.4 边界扫描互连诊断算法存在的问题
  6.3 有关征兆误判和征兆混淆的定理和推论的证明
    6.3.I故障检测定理
    6.3.2 抗误判定理
    6.3.3 完备性定理
  6.4 W—A与W—OW—A的常规互连诊断算法
    6.4.1 改进的W—O抗误判算法
    6.4.2 改进的W—A抗误判算法
    6.4.3 同时具备W—O和W—A对角独立性的多故障测试生成算法
    6.4.4 W—A的GNS算法
    6.4.5 W—OW—A的GNS算法
    6.4.6 常规互连诊断算法总结
  6.5 结构互连诊断算法
    6.5.1 故障提取及故障原因分析
    6.5.2 短路故障提取方法
    6.5.3 结构算法相关定义
    6.5.4 现有结构诊断算法分析
  6.6 W—A与W—OW—A的自适应互连诊断算法
    6.6.1 W—A的自适应互连诊断算法
    6.6.2 W—OW—A的自适应互连诊断算法
    6.6.3 改进的自适应互连诊断算法
第七章混合电路边界扫描测试标准IEEE1149.4
  7.1 混合电路测试工作原理及基本测试结构
  7.2 测试总线接口电路(TBIC)
    7.2.1 测试总线与TBIC结构
    7.2.2 测试总线接口电路控制
    7.2.3 隔离内部测试总线结构
  7.3 ABM模块
    7.3.1 ABM的基本结构
    7.3.2 ABM的控制
    7.3.3 差分ABM
  7.4 指令
  7.5 测量方法
    7.5.1 互连测试
    7.5.2 扩展互连测试
    7.5.3 网络测量
第八章模块测试及维护总线标准IEEE1149.5
  8.1 IEEE1149.5标准简介
  8.2 IEEE1149.5MTM总线的结构、寻址方式和物理层协议
  8.3 IEEE1149.5MTM总线的链路层协议
    8.3.1 消息包说明及要求
    8.3.2 主模块的链路层协议
    8.3.3 从模块的链路层协议
  8.4 IEEE1149.5MTM总线的消息层协议
第9章  数字电路系统边界扫描测试技术应用
  9.1 被测系统描述
    9.1.1 被测系统分析
    9.1.2 被测系统测试性设计
  9.2 主控系统硬件设计
  9.3 主控系统软件设计
  9.4 边界扫描测试验证与结果分析
    9.4.1 边界扫描互连测试验证
    9.4.2 边界扫描簇测试验证
    9.4.3 芯片功能自测试验证
    9.4.4 BIsT测试
第10章  基于边界扫描测试技术的混合信号电路BIT应用
  10.1 研究对象简介
  10.2 基于边界扫描技术的混合信号电路测试性设计
  10.3 被测电路系统的设计和改造
    10.3.1 相关性分析和建模
    10.3.2 测试优选
    10.3.3 制定诊断策略
    10.3.4 基于边界扫描技术的BIT设计实现
  10.4 测试类型和测试方法
    10.4.1 边界扫描链路完整性测试
    10.4.2 器件间互连测试
    10.4.3 分立元件参数测试
参考文献