电源完整性

本书从测量的角度出发，全面阐述了电源对系统的影响。作者在第1-3章介绍了测量基础、测量原理以及测试基本常识，比如灵敏度、本底噪声、动态范围、均值以及衰减器和前置放大器的使用，围绕各种测量域如频域、时域、增益、相位以及S参数等展开；第4章以实例介绍了如何使用测试设备测量电源完整性；第5章介绍了各种探头；第6章则围绕电源的分布网络展开；第8-15章介绍了特殊的电源完整性测量方法。

目　　录译者序致谢第1章　引言 11.1　你将从本书学到什么 11.2　谁将从本书受益 21.3　本书的通用版式 21.3.1　为什么测量 21.3.2　获得或验证数据 21.3.3　设计、选择、优化 41.3.4　故障诊断 41.3.5　确认或验证 51.3.6　术语 6第2章　测量艺术 72.1　无损的原因 72.2　不影响结果的测量 72.3　验证测试装置和测量限制 82.4　以高效和直接方式测量 92.4.1　非侵入式测量与侵入式测量 92.4.2　在线测量 92.4.3　间接测量与直接测量 102.5　测量的完整归档 102.5.1　测试工程师的名字和联系方式 102.5.2　测试的目的 112.5.3　仿真或预测的结果是否可用 122.5.4　测试日期和物理位置 132.5.5　运行测试的环境和条件 132.5.6　每种测试设备的名称（包括探头）和校准周期 132.5.7　装置的框图或图片 132.5.8　测量注释和说明 142.5.9　任何观测到的异常 142.5.10　结果和任何后续工作的总结 14第3章　测量基本原理 153.1　灵敏度 153.2　本底噪声 163.3　动态范围 173.4　噪声密度 203.5　信号平均 233.6　标度 253.7　衰减器 273.8　前置放大器 283.9　测量域 303.9.1　频域 303.9.2　增益和相位 303.9.3　S参数 303.9.4　阻抗 313.9.5　时域 313.9.6　频谱域 333.9.7　测量域的比较 343.10　尾注 36第4章　测试设备 374.1　频率响应分析仪和矢量网络分析仪 384.1.1　Omicron Lab Bode 100 384.1.2　Agilent E5061B 394.2　示波器 394.2.1　Teledyne Lecroy Waverunner 6 Zi 394.2.2　Rohde & Schwarz RTO1044 404.2.3　Tektronix DPO7000 414.2.4　Tektronix DPO72004B 414.2.5　Teledyne Lecroy Wavemaster 8 Zi 414.2.6　Tektronix MSO5204 424.2.7　Teledyne Lecroy HDO6104 434.2.8　Tektronix MDO4104-6 444.2.9　Omicron Lab ISAQ 100 444.3　频谱分析仪 454.3.1　Tektronix RSA5106A 454.3.2　Agilent N9020A 464.3.3　Agilent E5052B 464.4　信号发生器 474.5　TDR/TDT S参数分析仪 484.5.1　Picotest G5100A 484.5.2　Tektronix DSA8300/80E10 484.5.3　Teledyne Lecroy SPARQ 4012E 504.5.4　Agilent E5071C 50第5章　探头、注入器和互连 525.1　电压探头 525.1.1　探头电路相互影响 535.1.2　探头响应平坦化 555.1.3　测量确认 565.1.4　选择电压探头 575.1.5　无源探头 585.1.6　有源探头 595.1.7　差分探头 605.1.8　特殊探头 605.1.9　其他连接 685.2　尾注 68第6章　分布式系统 696.1　电源稳压器的噪声路径 706.1.1　内部噪声 706.1.2　电源抑制比 726.1.3　输出阻抗 746.1.4　反向传输和串扰 746.2　控制环路的稳定性 756.2.1　对输出阻抗的影响 766.2.2　对噪声的影响 766.2.3　对电源抑制比的影响 776.2.4　对反向传输的影响 776.3　差的稳定性如何传入系统 786.4　尾注 82第7章　阻抗测量 837.1　选择一种测量方法 837.1.1　单端口测量法 837.1.2　两端口测量法 947.1.3　电流注入器测量 1077.1.4　阻抗适配器 1087.2　尾注 113第8章　测量稳定性 1158.1　稳定性及其必要性 1158.1.1　控制环基础知识 1158.1.2　增益裕量、相位裕量、延时裕量以及稳定性裕量 1168.1.3　伯德图和奈奎斯特图 1178.1.4　开环测量 1218.1.5　注入设备 1228.1.6　探头 1248.1.7　闭环测量 1298.1.8　上电和断电测量 1298.1.9　正向测量 1308.1.10　小环路增益 1308.1.11　非侵入式闭环测量 1338.2　尾注 136第9章　PSRR测量 1379.1　测量方法 1379.1.1　在线或离线测量 1379.1.2　直接或间接测量 1389.2　输入调制 1389.2.1　线路注入器 1399.2.2　电流注入器 1429.2.3　DC放大器 1439.3　选择测量域 1439.3.1　矢量网络分析仪 1439.3.2　频谱分析仪 1439.3.3　示波器 1449.3.4　探头和灵敏度 1449.4　尾注 150第10章　反向传输和串扰 15110.1　不同拓扑结构的反向传输 15110.1.1　串联线性稳压器 15110.1.2　并联稳压器 15210.1.3　POL稳压器 15310.1.4　运算放大器 15310.2　调制输出电流 15310.2.1　电流注入器 15410.2.2　DC偏置注入器 15410.3　测量输入电流 15410.4　测量输入电压 15610.5　间接测量 15710.6　尾注 162第11章　阶跃负载响应测量 16311.1　瞬态的产生 16311.1.1　电流注入器和电子负载 16311.1.2　斜率 16411.1.3　电流调制波形 16611.2　测量响应 16711.2.1　大信号与小信号 16811.2.2　注意平均 16811.2.3　采样率和时间刻度 17011.3　尾注 175第12章　测量纹波和噪声 17612.1　选择一种测量方法 17612.1.1　系统内测量与系统外测量 17712.1.2　直接测量与间接测量 17712.1.3　时域测量与频域测量 17712.2　互连设备 17712.2.1　示波器无源探头 17812.2.2　示波器有源探头 17812.2.3　直接使用50 Ω端接 17812.3　选择设备 17912.4　平均模式和滤波 19212.5　尾注 193第13章　边沿测量 19413.1　带宽与上升时间 19413.1.1　上升时间的级联 19713.1.2　工作带宽与滤波器的影响 20013.2　采样率与交错采样 20213.3　内插 20313.4　同轴电缆 20413.5　探头连接的重要性 20613.6　PCB因素 20813.7　探头 20813.8　尾注 212第14章　用近场探头排除故障 21314.1　电磁辐射基本理论 21314.2　近场探头 21414.3　探头和方位 21514.4　测量仪器 21714.5　频谱门限 21714.6　尾注 229第15章　高频阻抗测量 23015.1　时域 23015.2　校准 23115.3　参考面 23215.4　设置TDR脉冲上升时间 23515.5　TDR测量结果的分析 23715.6　评估电感和电容 24015.7　S参数测量 24515.8　尾注 247