描述
开 本: 16开纸 张: 胶版纸包 装: 平装是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787111419747丛书名: 普通高等教育“十二五”规划教材
全书共分十章,内容包括:干涉测试基础,单频干涉术,双频干涉术,莫尔干涉术,全息术,全息干涉术,全信息测量技术,散斑干涉术,光学相关测试技术,光源、记录介质和探测器。每章末均附有习题。
《普通高等教育“十二五”规划教材:现代光学测试技术》主要适用于光电信息工程、精密仪器与测试专业的本科生和研究生,同时也可供相关科研工作者参考。
前言(Preface)
第1章 干涉测试基础(Chapter 1Foundation of Interference Testing)
1.1 干涉与干涉术(Interference and Interferometry)
1.2 基本关系式(Basic Relations)
1.3 干涉条纹的特性(Characteristics of Interference Fringes)
1.4 不同频率的单色平面波的干涉( Interference of Monochromatic Plane Wave with
Different Frequency)
1.5 球面波的干涉(Interference of Spherical Wave)
1.6 光源的相干性[9~11](Coherence of Light Source)
1.7 对干涉仪元件的一般要求[12](General Requirements for Interferometer
Elements)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第2章 单频干涉术(Chapter 2Mono?frequency Interferometry)
2.1 干涉仪及其分类(Interferometer and Classification)
2.2 波前形状的研究(Researching of Wavefront Shape)
2.3 米基准的测定[2~4](Measurement of Meter Benchmark)
2.4 长度测量(Measurement of Length)
2.5 位移测量(Displacement Measurement)
2.6 CCD?微机系统在干涉测长中的应用[5,6](Application of CCD?computer System in
Interference Length Measurement)
2.7 波面位相自动探测技术(Automatic Detection Technology of Wave Front
Phase)
2.8 平行平板的楔度测量(Wedge Angle Measurement of Plane Parallel
Plate)
2.9 小角度测量和介质折射率测量[16](Measurement of Small Angle and Refractive
Index)
2.10 激光波长测量[17](Measurement of Laser Wavelength)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第3章 双频干涉术(Chapter 3Double Frequency Interferometry)
3.1 双频干涉术(Double Frequency Interferometry)
3.2 光频调制技术(Light frequency Modulation Technology)
3.3 激光外差干涉仪[6~9](Laser Heterodyne Interferometer)
3.4 外差偏振测距干涉仪[10,11](Polarizing Heterodyne Range Finding
Interferometer)
3.5 实时外差干涉仪[12](Real?time Heterodyne Interferometer)
3.6 空气折射率的测定[13,14](Refractive Index Measurement of Air)
3.7 微振动和角度测量(Measurement of Micro?vibration and Angle)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第4章 莫尔干涉术(Chapter 4Moire Interferometry)
4.1 莫尔干涉测量原理(Measurement Principle of Moire Interference)
4.2 莫尔干涉术测位移(Displacement Measurement with Moire
Interferometry)
4.3 莫尔干涉术测面形(Surface Contour Measurement with Moire
Interferometry)
4.4 莫尔干涉术测变形和振动(Measurement of Deformation and Vibration with
Moire Interferometry)
4.5 莫尔干涉术测流体折射率及其梯度(Refractive Index and Gradient Measurement of
Fluid with Moire Interferometry)
4.6 外差莫尔干涉术测平面度[15](Flatness Measurement with Heterodyne Moire
Interferometry)
4.7 莫尔条纹的自动处理[16,17](Automatic Processing of Moire
Fringes)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第5章 全息术(Chapter 5Holography)
5.1 全息术原理(Holographic Principle)
5.2 全息图的记录、存储和重现(Record, Storage and Reconstruction of
Hologram)
5.3 全息图的分类(Classification of Hologram)
5.4 全息图的基本性质(Basic Characteristics of Hologram)
5.5 数字全息记录与重建原理[5~9](Principle of Digital Holographic Recording
and Reconstruction)
5.6 全息术的应用(Holographic Application)
5.7 实验中注意的问题(Notice in Experiments)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第6章 全息干涉术(Chapter 6Holographic Interferometry)
6.1 全息干涉术原理(Principle of Holographic Interferometry)
6.2 全息干涉术的特征(Characters of Holographic Interferometry)
6.3 实时全息干涉术(Real?Time Holographic Interferometry)
6.4 双曝光干涉术(Double Exposure Holographic Interferometry)
6.5 时间平均全息干涉术(Time?average Holographic Interferometry)
6.6 频闪照明全息干涉术(Holographic Interferometry with Stroboscopic
Illumination)
6.7 全息等高线术(Holographic Contour Method)
6.8 反射照明全息图的计算(Calculation of Reflective Illumination
Hologram)
6.9 数字全息干涉术(Digital Holographic Interferometry)
6.10 全息干涉术的应用(Application of Holographic Interferometry)
6.11 计算全息图检验非球面(Aspheric Surface Testing by Computer?generated
Hologram)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第7章全信息测量技术(Chapter 7All Information Measurement Technology)
7.1 自动处理全息图(Automatic Processing Hologram)
7.2 实时全息干涉术的全信息测量(All information Measurement of Real?time
Holographic Interferometry)
7.3 双曝光全息干涉术的全信息测量(All Information Measurement of Double?exposure
Holographic Interferometry)
7.4 全信息测量的光学系统(Optical System of All Information
Measurement)
7.5 电学系统与自控技术(Electrical System and Auto?control Technology)
7.6 表面变形的全信息测量(All Information Measurement of Deformed
Surface)
7.7 胶体硬化时厚度变化的全信息测量[12](All Information Measurement of Thickness
Changing under Adhesive Shrinking)
7.8 基于EALCD的数字全息干涉术[14](Digital Holographic Interferometry Based
on EALCD)
7.9 四步数字相移全息干涉术三维变形测量[17,18](3D Deformation Measurement Based on
Four?step Digital Phase Shifting)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第8章散斑干涉术(Chapter 8Speckle Interferometry)
8.1 散斑计量学的发展历程(Development Course of Speckle Metrology)
8.2 散斑及其特性(Speckle and Its Characteristics)
8.3 数字散斑照相术(Digital Speckle Photography)
8.4 数字散斑干涉术测物面形变(Digital Speckle Interferometry for Deformation
Measurement)
8.5 数字散斑相关技术(Digital Speckle Correlation Technique)
8.6 剪切散斑干涉术(Shearing Speckle Interferometry)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第9章光学相关测试技术(Chapter 9Optical Correlation Test Technology)
9.1 光学信息处理技术(Technology of Optical Information Processing)
9.2 傅里叶变换原理(Principle of Fourier Transform)
9.3 范德尔?卢格特(Vander?lugt)相关器(Vander?lugt Correlator)
9.4 实时联合变换相关器(Real?time Joint Transform Correlator)
9.5 基于实时联合变换相关器的滤波技术(Filtering Technique Based on Real?time Joint
Transform Correlator)
9.6 畸变不变目标识别技术(Distortion Invariant Target Recognition
Technology)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
第10章光源、记录介质和探测器(Chapter 10Light Source, Recording Material and
Detector)
10.1 全息干涉对光源的要求(The Requirements for Light Source of Holographic
Interference)
10.2 激光光源(Laser Light Source)
10.3 对全息记录材料的要求(The Requirements for Recording Materials in
Holography)
10.4 卤化银照相乳胶(Halogenating Silver Photographic Emulsion)
10.5 光导热塑料[8](Photoconductor Thermoplastic Film)
10.6 硅酸铋晶体[9,10](BSO Crystal)
10.7 电视摄像机(Television Camera)
10.8 固体图像传感器[13,14](Solid Image Sensor)
10.9 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
本章习题(Exercises)
本章术语(Terminologies)
参考文献(References)
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