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首页工业技术电子通信集成电路封装材料的表征

集成电路封装材料的表征

作者:(美)布伦德尔,(美)埃文斯,(美)摩尔 主编 出版社:哈尔滨工业大学出版社 出版时间:2014年01月 

ISBN: 9787560342825
年中特卖用“SALE15”折扣卷全场书籍85折!可与三本88折,六本78折的优惠叠加计算!全球包邮!
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EUR €58.99

类别: 电子通信 SKU:5d87346c5f98494bcc14d78a 库存: 有现货
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描述

开 本: 16开纸 张: 胶版纸包 装: 平装是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787560342825

内容简介

  《集成电路封装材料的表征(英文)》的主要内容包括: Foreword;Preface to the Reissue of the Materials Characterization Series xiii;Preface to Series xiv;Preface to the Reissue of Integrated Circuit Packaging Materials xv;Preface xvi;Contributors xix等。
作者简介
  Thomas M. Moore and Robert G. McKennaForeword by Walter H. Schroen, TI FELLOWCharacterization of Integrated Circuit Packaging Materials deals with the systemsof materials that comprise IC packages. Chapters in this volume address important characteristics of IC packages. It demonstrates analytical techniquesappropriate for IC package characterization through examples of the measurement of critical performance parameters and the analysis of key technologicalproblems of IC packages. This book discusses issues which affect a varietyof package types, including plastic surface—mount packages, hermetic packages, and advanced designs such as flip—chip, chip—on—board, and multi—chipmodels.
目  录
Foreword xi
Preface to the Reissue of the Materials Characterization Series xiii
Preface to Series xiv
Preface to the Reissue of Integrated Circuit Packaging Materials xv
Preface xvi
Contributors xix
IC PACKAGE RELIABILITY TESTING
MOLD COMPOUND ADHESION AND STRENGTH
MECHANICAL STRESS IN IC PACKAGES
MOISTURE SENSITMTY AND DELAMINATION
THERMAL MANAGEMENT
ELECTRICAL PERFORMANCE OF IC PACKAGES
SOLDERABILITY OF INTEGRATED CIRCUITS
HERMETICITY AND JOINING IN CERAMIC IC PACKAGES
ADVANCED INTERCONNECT TECHNOLOGY
APPENDIX: TECHNIQUE SUMMARIES

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