描述
开 本: 大16开纸 张: 胶版纸包 装: 平装是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787118080919丛书名: 普通高等教育材料科学与工程“十二五”规划教材
内容简介
《材料现代分析技术》首先介绍了晶体学基础知识，然后系统介绍了x射线的物理基础、x射线衍射的方向与强度、多晶体x射线衍射分析的方法、x射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用；介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用；介绍了俄歇电予能谱仪(aes)、x射线光电子能谱仪(xps)、扫描隧道电镜(stm)、低能电子衍射(leed)等常用表面分析技术和热重分析法(tg)、差热分析法(dta)、差示扫描量热法(dsc)等常用热分析技术的原理、特点及其应用；最后简要介绍了光谱分析技术，包括原子光谱、红外光谱、激光光谱等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属问化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重—引入了一些当前材料界*的研究成果。
《材料现代分析技术》可作为材料科学与工程学本科生的学习用书，也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。
目 录
目录
《材料现代分析技术》
第1章晶体学基础
1.1晶体及其基本性质
1.2晶向、晶面及晶带
1.3晶体的宏观对称及点群
1.4晶体的微观对称与空间群
1.5晶体的投影
1.6倒易点阵
本章小结
思考题
第2章x射线的物理基础
2.1 x射线的发展史
2.2 x射线的性质
2.3 x射线谱
2.4 x射线与物质的相互作用
本章小结
思考题
第3章x射线的衍射原理
3.1 x射线衍射的方向
3.2 x射线的衍射强度
第1章晶体学基础
1.1晶体及其基本性质
1.2晶向、晶面及晶带
1.3晶体的宏观对称及点群
1.4晶体的微观对称与空间群
1.5晶体的投影
1.6倒易点阵
本章小结
思考题
第2章x射线的物理基础
2.1 x射线的发展史
2.2 x射线的性质
2.3 x射线谱
2.4 x射线与物质的相互作用
本章小结
思考题
第3章x射线的衍射原理
3.1 x射线衍射的方向
3.2 x射线的衍射强度
.本章小结
思考题
第4章x射线的多晶衍射分析及其应用
4.1 x射线衍射仪
4.2 x射线物相分析
4.3点阵常数的精确测定
4.4宏观应力的测定
4.5微观应力及晶粒大小的测定
4.6非晶态物质及其晶化后的衍射
4.7膜厚的测量
4.8多晶体的织构分析
本章小结
思考题
第5章电子显微分析的基础
5.1光学显微镜的分辨率
5.2电子波的波长
5.3电子与固体物质的作用
5.4电子衍射
本章小结
思考题
第6章透射电子显微镜
6.1工作原理
6.2电磁透镜
6.3电磁透镜的像差
6.4电磁透镜的景深与焦长
6.5电镜分辨率
6.6电镜的电子光学系统
6.7主要附件
6.8透射电镜中的电子衍射
6.9常见的电子衍射花样
6.10透射电镜的图像衬度理论
6.11透射电镜的样品制备
本章小结
思考题
第7章薄晶体的高分辨像
7.1高分辨电子显微像的形成原理
7.2高分辨像举例
本章小结
思考题
第8章扫描电子显微镜及电子探针
8.1扫描电镜的结构
8.2扫描电镜的主要性能参数
8.3表面成像衬度
8.4二次电子衬度像的应用
8.5背散射电子衬度像的应用
8.6电子探针
8.7电子探针分析及应用
8.8扫描电镜的发展
本章小结
思考题
第9章表面分析技术
9.1俄歇电子能谱仪(aes)
9.2x射线光电子能谱仪(xps)
9.3扫描隧道电镜(stm)
9.4低能电子衍射(leed)
本章小结
思考题
第10章热分析技术
10.1热分析技术的发展史
10.2热分析方法
10.3热分析测量的影响因素
10.4热分析的应用
10.5热分析技术的新发展
本章小结
思考题
第11章光谱分析技术
11.1原子发射光谱
11.2原子吸收光谱
11.3原子荧光光谱法
11.4紫外一可见分光光度法
11.5红外光谱
11.6激光拉曼光谱法
本章小结
思考题
附录a常用物理常数
附录b晶体的三类分法及其对称特征
附录c32种点群对称元素示意图
附录d宏观对称元素及说明
附录e32种点群的习惯符号、国际符号及圣佛利斯符号
附录f质量吸收系数μm
附录g原子散射因子f
附录h原子散射因子校正值△f
附录i粉末法的多重因素pnkl
附录j某些物质的特征温度
附录k德拜函数φ(x)/x+1/4之值
附录l应力测定常数
附录m常见晶体的标准电子衍射花样
参考文献
思考题
第4章x射线的多晶衍射分析及其应用
4.1 x射线衍射仪
4.2 x射线物相分析
4.3点阵常数的精确测定
4.4宏观应力的测定
4.5微观应力及晶粒大小的测定
4.6非晶态物质及其晶化后的衍射
4.7膜厚的测量
4.8多晶体的织构分析
本章小结
思考题
第5章电子显微分析的基础
5.1光学显微镜的分辨率
5.2电子波的波长
5.3电子与固体物质的作用
5.4电子衍射
本章小结
思考题
第6章透射电子显微镜
6.1工作原理
6.2电磁透镜
6.3电磁透镜的像差
6.4电磁透镜的景深与焦长
6.5电镜分辨率
6.6电镜的电子光学系统
6.7主要附件
6.8透射电镜中的电子衍射
6.9常见的电子衍射花样
6.10透射电镜的图像衬度理论
6.11透射电镜的样品制备
本章小结
思考题
第7章薄晶体的高分辨像
7.1高分辨电子显微像的形成原理
7.2高分辨像举例
本章小结
思考题
第8章扫描电子显微镜及电子探针
8.1扫描电镜的结构
8.2扫描电镜的主要性能参数
8.3表面成像衬度
8.4二次电子衬度像的应用
8.5背散射电子衬度像的应用
8.6电子探针
8.7电子探针分析及应用
8.8扫描电镜的发展
本章小结
思考题
第9章表面分析技术
9.1俄歇电子能谱仪(aes)
9.2x射线光电子能谱仪(xps)
9.3扫描隧道电镜(stm)
9.4低能电子衍射(leed)
本章小结
思考题
第10章热分析技术
10.1热分析技术的发展史
10.2热分析方法
10.3热分析测量的影响因素
10.4热分析的应用
10.5热分析技术的新发展
本章小结
思考题
第11章光谱分析技术
11.1原子发射光谱
11.2原子吸收光谱
11.3原子荧光光谱法
11.4紫外一可见分光光度法
11.5红外光谱
11.6激光拉曼光谱法
本章小结
思考题
附录a常用物理常数
附录b晶体的三类分法及其对称特征
附录c32种点群对称元素示意图
附录d宏观对称元素及说明
附录e32种点群的习惯符号、国际符号及圣佛利斯符号
附录f质量吸收系数μm
附录g原子散射因子f
附录h原子散射因子校正值△f
附录i粉末法的多重因素pnkl
附录j某些物质的特征温度
附录k德拜函数φ(x)/x+1/4之值
附录l应力测定常数
附录m常见晶体的标准电子衍射花样
参考文献
评论
还没有评论。