描述
开 本: 大16开纸 张: 胶版纸包 装: 平装是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787506654722
内容简介
本标准等同采用ISO 14595：2003《微束分析电子探针分析标准样品技术条件导则》（英文版）。
为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：
——“本国际标准”一词改为“本标准”；
——用小数点“.”代替作为小数点的逗号“，”；
——删除国际标准的前言。
本标准代替GB/T 4930—1993《电子探针分析标准样品通用技术条件》，因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。
本标准对GB/T 4930—1993进行了全面修改：
——标题：将GB/T 4930—1993原标题“电子探针分析标准样品通用技术条件”改为“微束分析 电子探针分析标准样品技术条件导则”；
——所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动，运用的技术方法更先进，更合理；
——标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院（NIST）和英国国家
物理实验室（NPL）共同研制的检测和统计方法；
——将标样分级的概念引入本标准，使制作和应用标样的领域扩大，更合理，更全面。
本标准的附录B为规范性附录，附录A、附录C为资料性附录。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：
——“本国际标准”一词改为“本标准”；
——用小数点“.”代替作为小数点的逗号“，”；
——删除国际标准的前言。
本标准代替GB/T 4930—1993《电子探针分析标准样品通用技术条件》，因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。
本标准对GB/T 4930—1993进行了全面修改：
——标题：将GB/T 4930—1993原标题“电子探针分析标准样品通用技术条件”改为“微束分析 电子探针分析标准样品技术条件导则”；
——所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动，运用的技术方法更先进，更合理；
——标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院（NIST）和英国国家
物理实验室（NPL）共同研制的检测和统计方法；
——将标样分级的概念引入本标准，使制作和应用标样的领域扩大，更合理，更全面。
本标准的附录B为规范性附录，附录A、附录C为资料性附录。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
目 录
GB/T 4930—2008 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则
GB/T 15074—2008 电子探针定量分析方法通则
GB/T 15244—2002 玻璃的电子探针定量分析方法
GB/T 15245—2002 稀土氧化物的电子探针定量分析方法
GB/T 15246—2002 硫化物矿物的电子探针定量分析方法
GB/T 15247—2008 微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法
GB/T 15616—2008 金属及合金的电子探针定量分析方法
GB/T 15617—2002 硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法
GB/T 16594—2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 17359—1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
GB/T 17360—2008 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
GB/T 17361—1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
GB/T 17362—2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
GB/T 173631—2009 黄金制品金含量无损测定方法 第1部分：电子探针微分析法
GB/T 173632—2009 黄金制品金含量无损测定方法 第2部分：综合测定方法
GB/T 17365—1998 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法
GB/T 17366—1998 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法
GB/T 17506—2008 船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
GB/T 17507—2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
GB/T 17722—1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 18295—2001 油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法
GB/T 18735—2002 分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范
GB/T 18873—2008 生物薄试样的透射电子显微镜一X射线能谱定量分析通则
GB/T 18907—2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
GB/T 19499—2004 表面化学分析数据传输格式
GB/T 19500—2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T 19501—2004 电子背散射衍射分析方法通则
GB/T 19502—2004 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则
GB/T 20175—2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 20176—2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
GB/T 20307—2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 20724—2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 20725—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
GB/T 20726—2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
GB/T 21006—2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 21007—2007 表面化学分析 信息格式
GB/T 21636—2008 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语
GB/T 21637—2008 冠状病毒透射电子显微镜形态学鉴定方法
68/T 21638—2008 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
GB/T 22461—2008 表面化学分析 词汇
GB/T 22462—2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法
GB/T 22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
GB/T 22572—2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
GB/T 15074—2008 电子探针定量分析方法通则
GB/T 15244—2002 玻璃的电子探针定量分析方法
GB/T 15245—2002 稀土氧化物的电子探针定量分析方法
GB/T 15246—2002 硫化物矿物的电子探针定量分析方法
GB/T 15247—2008 微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法
GB/T 15616—2008 金属及合金的电子探针定量分析方法
GB/T 15617—2002 硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法
GB/T 16594—2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 17359—1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
GB/T 17360—2008 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
GB/T 17361—1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
GB/T 17362—2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
GB/T 173631—2009 黄金制品金含量无损测定方法 第1部分：电子探针微分析法
GB/T 173632—2009 黄金制品金含量无损测定方法 第2部分：综合测定方法
GB/T 17365—1998 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法
GB/T 17366—1998 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法
GB/T 17506—2008 船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
GB/T 17507—2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
GB/T 17722—1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 18295—2001 油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法
GB/T 18735—2002 分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范
GB/T 18873—2008 生物薄试样的透射电子显微镜一X射线能谱定量分析通则
GB/T 18907—2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
GB/T 19499—2004 表面化学分析数据传输格式
GB/T 19500—2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T 19501—2004 电子背散射衍射分析方法通则
GB/T 19502—2004 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则
GB/T 20175—2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 20176—2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
GB/T 20307—2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 20724—2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 20725—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
GB/T 20726—2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
GB/T 21006—2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 21007—2007 表面化学分析 信息格式
GB/T 21636—2008 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语
GB/T 21637—2008 冠状病毒透射电子显微镜形态学鉴定方法
68/T 21638—2008 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
GB/T 22461—2008 表面化学分析 词汇
GB/T 22462—2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法
GB/T 22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
GB/T 22572—2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
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