描述
开 本: 16开纸 张: 胶版纸包 装: 平装-胶订是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787560659541
内容简介
本书是从微电子产业实际岗位需求出发,结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写,具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等,同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材,亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。
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