描述
纸 张: 胶版纸包 装: 平装是否套装: 否国际标准书号ISBN: 9787523618073
本书是国家科技02重大专项相关课题研究成果。在集成电路制造装备中,静电卡盘作为固定晶圆与控温的核心部件,其静电力的精确测量是确保工艺稳定性和提高芯片良率的关键。本书围绕静电卡盘静电力测量问题,系统构建了涵盖宏观工程应用和微观机理探究的理论与方法体系,从测量原理创新、实验平台研制、仿真方法验证、统一理论框架建立、参数敏感性分析、微纳尺度测量技术运用等方面开展了深入研究。全书融合理论建模、实验测量与数值仿真,为静电卡盘的性能评估和优化设计提供了重要科学依据,部分成果已应用于实际产线,可供集成电路装备及微纳制造领域研发人员参考。
本书是国家科技02重大专项相关课题研究成果。在集成电路制造装备中,静电卡盘作为固定晶圆与控温的核心部件,其静电力的精确测量是确保工艺稳定性和提高芯片良率的关键。本书围绕静电卡盘静电力测量问题,系统构建了涵盖宏观工程应用和微观机理探究的理论与方法体系,从测量原理创新、实验平台研制、仿真方法验证、统一理论框架建立、参数敏感性分析、微纳尺度测量技术运用等方面开展了深入研究。全书融合理论建模、实验测量与数值仿真,为静电卡盘的性能评估和优化设计提供了重要科学依据,部分成果已应用于实际产线,可供集成电路装备及微纳制造领域研发人员参考。
绪论
第一章 基于牵引提拉法的静电卡盘静电力测量平台
第二章 基于气体背吹法的静电卡盘静电力测量平台
第三章 断电后的静电卡盘残余静电力演变规律理论预测与实验测量
第四章 静电卡盘主要参数对静电力的影响
第五章 静电卡盘静电力仿真分析
第六章 基于AFM相位差分析的微观静电力测量
第七章 基于AFM振幅分析的微观静电力测量
第八章 结论与展望






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